技術文章
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吸濕性對 DkDf 的影響:為什麼高濕度會毀了你的高頻電路?
為什麼高濕度會毀了高頻電路?本文深入解析水分對 Dk/Df 的物理影響機制,探討吸濕如何導致阻抗不匹配與損耗增加,並介紹使用 SPDR/SCR 結合環境試驗箱進行原位動態量測的解決方案。吸濕性對 DkDf 的影響:為什麼高濕度會毀了你的高頻電路?Read More -
極端溫度下的材料表現:-50°C 到 +150°C 的 Dk/Df 變化測試 (SCR/SCRN 變溫系統)
材料在 -50°C 至 150°C 下的 Dk/Df 如何變化?本文深入解析 SCR/SCRN 變溫測試系統,探討介電常數溫度係數 (Tcc) 的物理機制,以及如何透過動態熱飄移補償技術,精準測量極端溫度下的材料特性。極端溫度下的材料表現:-50°C 到 +150°C 的 Dk/Df 變化測試 (SCR/SCRN 變溫系統)Read More -
生物醫療應用: 液體與生物組織的介電特性分析
生物組織與液體如何進行介電特性分析?本文深入解析開放式同軸探棒與微波共振腔技術,探討其在精準醫療、血糖檢測及腫瘤熱治療中的應用,並介紹針對高損耗生物材料的 Dk/Df 量測解決方案。生物醫療應用: 液體與生物組織的介電特性分析Read More -
銅箔基板 (CCL) 廠商必看: 如何在產線快速進行 Dk/Df 品管 (QC)?
CCL 廠商如何在產線快速執行 Dk/Df 品管?本文解析符合 IPC 標準的 SPDR 與 SCR 共振腔技術,探討其抗氣隙、非破壞性檢測優勢,並介紹自動化量測解決方案,助您精準監控 AI 伺服器與 5G 材料品質。銅箔基板 (CCL) 廠商必看: 如何在產線快速進行 Dk/Df 品管 (QC)?Read More -
AI 伺服器與高速運算 (HPC): 極低損耗 (Ultra Low Loss) PCB 板材的檢測關鍵
AI 伺服器與 HPC 需要什麼樣的 PCB?本文深入解析極低損耗 (Ultra Low Loss) 材料的檢測關鍵,涵蓋 Delta-L 4.0、SCR 毫米波測試、Z 軸各向異性與高溫熱飄移修正技術,助您掌握 112G/224G 高速傳輸的訊號完整性AI 伺服器與高速運算 (HPC): 極低損耗 (Ultra Low Loss) PCB 板材的檢測關鍵Read More -
車用雷達 (Automotive Radar) 77GHz79GHz:保險桿與雷達罩材料的穿透性測試方案
77GHz 雷達訊號如何穿透保險桿?本文解析車用雷達罩材料的 Dk/Df 測試、SCR 技術原理、穿透損耗與波束偏折驗證方案,介紹如何透過材料級與部件級的雙重驗證,確保 ADAS 系統精準度車用雷達 (Automotive Radar) 77GHz79GHz:保險桿與雷達罩材料的穿透性測試方案Read More -
5G/6G 通訊材料挑戰:如何精準測量毫米波頻段 (28GHz/39GHz) 的 Dk/Df
5G/6G 毫米波頻段 (28/39GHz) 材料如何測試?本文解析傳統外推法的誤差風險,介紹 SCR 分裂圓柱諧振腔技術在寬頻、抗氣隙及高溫測試的優勢,助您精準掌握 Dk/Df 特性5G/6G 通訊材料挑戰:如何精準測量毫米波頻段 (28GHz/39GHz) 的 Dk/DfRead More -
ASTM D150 與 ASTM D5568:低頻電容法與寬頻傳輸法的應用差異
ASTM D150 與 D5568 有何不同?本文比較低頻電容法與寬頻傳輸反射法的物理機制與應用場景,了解如何針對絕緣材料與微波吸波材選擇正確的測試標準ASTM D150 與 ASTM D5568:低頻電容法與寬頻傳輸法的應用差異Read More -
ASTM D2520 微擾法:適合實驗室的小樣品材料測試
ASTM D2520 微擾法如何解決小樣品測試難題?本文深入解析共振腔微擾技術原理,探討其在樣品體積極小、不規則形狀及高溫環境下的應用優勢,助研發工程師精準掌握材料 Dk/Df 特性ASTM D2520 微擾法:適合實驗室的小樣品材料測試Read More -
如何滿足 IEC 61189-2-721? 銅箔基板 (CCL) 的國際測試標準指南
如何滿足 IEC 61189-2-721 國際標準?本文深入解析針對銅箔基板 (CCL) 的 SPDR 分裂柱介電諧振測試法,涵蓋樣品製備、TE01δ 模態原理及氣隙免疫優勢,助研發工程師建立符合 IEC 規範的 Dk/Df 量測能力。如何滿足 IEC 61189-2-721? 銅箔基板 (CCL) 的國際測試標準指南Read More -
Intel Delta-L 4.0 介紹:伺服器與高速 PCB 的訊號損耗驗證標準
Intel Delta-L 4.0 是什麼?本文解析此標準如何透過差分長度法與 0.5mm 探針,在 40GHz 高頻下精準量測 PCB 插入損耗,去除治具效應,是 PCIe 5.0/6.0 伺服器板材驗證的必備技術Intel Delta-L 4.0 介紹:伺服器與高速 PCB 的訊號損耗驗證標準Read More -
IPC-TM-650 2.5.5.13 解析:分裂圓柱諧振腔 (SCR) 的測試規範重點
深入解析 IPC-TM-650 2.5.5.13 標準,探討 SCR 分裂圓柱諧振腔在 10-80GHz 毫米波材料測試中的應用,本文詳述測試原理、平面與垂直特性的差異及溫度係數測量優勢,助研發工程師精準掌握 5G 材料特性IPC-TM-650 2.5.5.13 解析:分裂圓柱諧振腔 (SCR) 的測試規範重點Read More